Mapa do Site

DIFRAÇÃO DE RAIOS X

A difração de raios X (DRX) corresponde a uma das principais técnicas de caracterização microestrutural de materiais cristalinos, utilizada em diversos campos do conhecimento, mais particularmente na engenharia/ciências de materiais, engenharias metalúrgica, química e de minas, além de geociências.

Suas principais aplicações incluem a identificação e a quantificação de fases cristalinas, a obtenção de parâmetros cristalográficos/estruturais, determinação da cristalinidade, estudos de filmes finos, textura, análises em alta temperatura para acompanhamento de transformações de fases e análises não ambientais, entre outros.

O LCT conta com três difratômetros de raios X:

 

Difratômetro D8 Endeavor, Bruker (Comodato Oregon Labware) - 2015

 
  • Configuração vertical  Θ-2Θ
  • Tubos de raios X: Cu kα (λ=1,542Å, 2,2 kW) e Co kα (λ=1,790Å,1,8 kW)
  • Detector sensível à posição LYNXEYE XE 
  • Trocador automático para 40 amostras
  • Spinner para rotação de amostras
  • Fendas Soller, divergente, antiespalhamento automáticas
  • Faca motorizada para coleta em baixo ângulo
  • Softwares para coleta/tratamento de dados: Diffrac. Measurement Center, Diffrac. EVA, Diffrac. TOPAS

 

Difratômetro X´Pert, Philips - 1997

 
  • Configuração vertical Θ-Θ e Θ-2Θ
  • Tubo de raios X: Cu kα (λ=1,542Å, 2,2 kW), Co kα (λ=1,790Å,1,8 kW) e Cr kα (λ=2,291Å,1,9 kW)
  • Detector sensível à posição X´Celerator com monocromador ou filtros kβ
  • Baixo ângulo com detector proporcional selado e monocromador paralelo
  • Trocador automático para 45 amostras
  • Spinner para rotação de amostras
  • Fendas Soller, divergente e de antiespalhamento automáticas
  • Softwares para coleta/tratamento de dados: X´Pert Data Collector, X´Pert Industry, X´Pert Quantify, X´Pert High Score Plus, X´Pert Texture, X´Pert Stress

 

Difratômetro MPD 1880, Philips - 1989 (backup)

 
  • Configuração vertical Θ-2Θ, geometria Bragg-Brentano
  • Tubo de raios X Cu kα (λ=1,542Å)
  • Detector proporcional selado para operação com monocromador curvo de grafite ou filtros kβ
  • Trocador automático para 21 amostras
  • Spinner para rotação de amostras
  • Fendas Soller, divergente, fenda de recepção e antiespalhamento fixas
  • Monocromador curvo de grafite
  • Software para coleta/tratamento de dados: APD – Philips

 

Banco de dados para análises qualitativas, quantitativas (Rietveld e RIR) e de estrutura cristalina:

  • TOPAS Bruker Databases (*.str files)
  • Crystallography Opens Database (COD)
  • PDF2 do ICDD - International Centre for Diffraction Data (2003);
  • PAN-ICSD, Inorganic Crystal Structures Database (National Institute of Standards and Technology, NIST, & Fachinformationszentrum Karlsruhe, FIZ) de 2007

 

Preparação de amostras para difração de raios X

 
  • Moinho planetário Pulverizette 5 (Fritsch) com recipientes de moagem de Fe-Cr e ágata
  • Prensa manual e hidráulica semi-automática HT-40 (Herzog)
  • Suportes de amostras vazados e diferenciados para prensagens manual e hidráulica; para acomodação de chapas; vidros e placas de silício para pequenas quantidades de material e suportes para amostras semi-líquidas e para acompanhamento de hidratação de cimento
  • Dessecadores e mufla utilizados em estudos de argilominerais

Copyright 2008 LCT - Desenvolvido por Diagrama Estúdio