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Microscopia confocal e interferometria

Permite a avaliação rápida e não invasiva de micro e nano estruturas de superfícies. 

A microscopia confocal permite o estudo de múltiplas superfícies de vários tipos de materiais, em diversos níveis de refletividade, formas complexas ou elevadas inclinações.

Quando utilizada com objetivas para inferferometria, permite analisar superfícies lisas e até ultra polidas, nas mais diversas aplicações.

Combinando-se microscopia confocal e interferometria, torna-se possível realizar medições em alta velocidade e alta resolução - até 0,1 nm. Esta configuração possibilita a caracterização de superfícies e suas topologias, assim como camadas e espessuras de materiais.

Microscópio Confocal Leica DCM 3D

  • Microscópio confocal e interferômetro, sem contato, para perfilometria tridimensional
  • Feixes de LED de alta potência: branco (530 nm) e azul (460 nm) para luz coaxial
  • Modos de contraste: Confocal, Interferometria (PSI, ePSI, VSI), Brightfield Color, Brightfield Greyscale (high resolution), Darkfield
  • Objetivas de 2.5X até 150X no modo confocal e 5X a 50X no modo interferometria
  • Campo de visão (FOV): 2550x1910 µm a 84,8x63,6 µm
  • Resolução óptica: 0,94 a 0,14 µm (Confocal) e 1,08 a 0,28 µm (interferometria)
  • Resolução vertical: <150 a <2 nm (Confocal) e <4 a <0,1 nm)
  • Resolução espacial de 50 a 0,9 µm
  • Platina motorizada XY com controlador XYZ 114x75mm
  • 2 sensores para aquisição de imagem: metrologia (P&B), Color – ambos de alta resolução (CCD)
  • Curso de varredura vertical: 40 mm

Aplicações

  • Topografia 3D 
  • Perfilometria
  • Determinação de espessuras
  • Medidas de rugosidade
  • Medidas de volumes
  • Caracterização textural de superfícies

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