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MICROSCOPIA ELETRÔNICA DE VARREDURA E MICROANÁLISE QUÍMICA

A microscopia eletrônica de varredura (MEV) é uma importante técnica analítica, em escala milimétrica a nanométrica, empregada na caracterização de materiais de diversos campos do conhecimento como a engenharia e ciências dos materiais, engenharias metalúrgica e de minas, geociências, ciências biológicas, dentre outros.

Composição, superfície topográfica, morfologia e associações de fases são parâmetros obtidos em estudos ao MEV a partir da resposta da interação de um fino feixe de elétrons com a área e o microvolume analisado.

O LCT conta com dois microscópios eletrônicos de varredura: Stereoscan S440, marca LEO, e Quanta 650FEG, marca FEI, ambos com sistemas de microanálise química acoplado.

Análises por MEV são usualmente acompanhadas pelos interessados devendo ser previamente agendadas. Para maiores detalhes consultar “Parcerias”

Alguns exemplos de aplicações e respectivas imagens são apresentados a seguir

Foto 1 – Morfologia (Elétrons Secundários -SE) Foto 2 – Identificação de minerais por BSE (Backscattering -contraste de número atómico) Foto 3 - Catôdo Luminescência (CL - RGB)

Foto 4 – Point ID – Microanálise química por EDS Foto 5 – Line Scan – Quantificação composicional de um perfil por EDS Foto 6 – Mapeamento Elementar por EDS mostrando a concentração dos elementos por falsa cor



Microscópio eletrônico de varredura ambiental (ESEM) Quanta 650 FEG, marca FEI, com sistemas de microanálise Quantax, marca Bruker, e de análises de imagens: MLA- Mineral Liberation Analyser

  • Modo de operação: alto vácuo, baixo vácuo e ambiental (ESEM)
  • Fonte por emissão de campo (Field Emission Gun)
  • Detectores: SE, BSE de corrente de amostra
  • Sistema de microanálise por EDS Quantax, marca Bruker, possibilitando a realização de análises qualitativas e quantitativas, aquisição de imagens, análise multiponto e de feições, varredura por linhas e mapeamento de raios X e controle externo do microscópio eletrônico de varredura. Detector XFlash 4030 com tecnologia SDD (silicon drift detector) com janela de 30 mm2 e resoluções de < 130 eV (Mn kα) a 60 kcps, 138 eV a 130 kcps e 158 eV a 280 kcps
  • Estágio motorizado X-Y-Z-inclinação e rotação com movimentação X-Y de 150 mm
  • Estágio Peltier para análises em modo ambiental e em baixa temperatura (até -20º C)
  • Óptica eletrônica com operação no intervalo de 200 V a 30 kV, corrente de feixe de elétrons de 100 nA e magnificação máxima de 300.000 X
  • Software de análise de imagens SIS para medidas on line
  • Software de análise de imagens MLA - Mineral Liberation Analizer com controle remoto do microscópio e sistema de EDS para análises mineralógicas quantitativas dirigidas à indústria mineral.

Microscópio eletrônico de varredura Stereoscan S440, marca Leo, com sistemas de microanálise INCA (EDS/WDS), marca Oxford, e de análises de imagens QWin Pro, marca Leica

  • Modo de operação: alto vácuo
  • Fonte: filamento de W 
  • Detectores: SE, BSE, CL e de corrente de amostra
  • Sistema de microanálise integrado de EDS e WDS INCA, marca Oxford, possibilitando a realização de análises qualitativas e quantitativas, aquisição de imagens, análise multiponto e de feições, varredura por linhas e mapeamento de raios X. Detectores de EDS de Ge (<120 eV de resolução) e WDS 600i com 6 cristais analisadores
  • Estágio eucêntrico motorizado X-Y-Z com inclinação e rotação manuais; movimentação X-Y de 80 mm
  • Óptica eletrônica com operação no intervalo de 5 kV a 40 kV com resolução de imagem de 8 nm a 3 0kV com filamento de W
  • Software de análise de imagens QWin Pro, marca Leica, com controle remoto do MEV e realização de medidas on line

Equipamento de recobrimento de amostras MED020 (Bal-tec)

  • Câmara de amostras com 108 mm de diâmetro e distância de trabalho de 30 a 168 mm
  • Sputtering com alvos de Au e Pt , além de evaporação de Al
  • Suporte rotativo para até 8 suporte de amostras
  • Medidor de espessura de recobrimento QSG060

Equipamento de recobrimento de amostras SCD050 (Bal-tec)

  • Câmara de amostras com 108 mm de diâmetro e distância de trabalho de 30 a 82 mm
  • Evaporação de fio de C
  • Sputtering com alvos de Au e Pt

Preparação de amostras por feixe de íons TIC020 (Leica)

  • Corte de amostras sem deformação mecânica por sistema de triplo feixe de íons

Máquinas de corte para preparação de amostras

  • Máquina de corte Accutom-50, marca Struers;
  • Máquina de corte CS12, marca Logitech;

Sistemas de despaste e polimento de seções delgadas e polidas

  • Tegramin-30, marca Struers, para desbaste e polimento de amostras na confecção de seções polidas;
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