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REGULAMENTAÇÃO ESPECÍFICA PARA AS TÉCNICAS DE MICROSCOPIA ELETRÔNICA DE VARREDURA (MEV), MICROSCOPIA CONFOCAL (MC) E MICROSCOPIA ÓPTICA (MO)

  • Os horários de utilização de MEV, MC e MO estão restritos a um período máximo de 4 horas por semana para cada usuário, de forma a melhor atender a rede de usuários. Exceções são aplicadas a usuários de instituições localizadas a mais de 100 km de distância. 
  • O tempo mínimo considerado para análise é de 1 (uma) hora. 
  • O não comparecimento ou cancelamento sem aviso prévio de no mínimo 24 (vinte e quatro) horas acarretará na cobrança do valor correspondente a 50% (cinquenta) da sessão agendada.
  • A distribuição de usuários entre os MEVs existentes será definida pelo LCT com base nos objetivos do trabalho e nas características do material a ser analisado. 
  • As análises ao MEV deverão preferencialmente ser acompanhadas pelos respectivos interessados (aluno, docente, pesquisador) e os equipamentos serão operados pela equipe do LCT. Com objetivo de maximizar a utilização do equipamento, a primeira sessão deverá ser preferencialmente acompanhada pelo pesquisador principal/orientador, para adequada definição de objetivos e procedimentos analíticos. 
  • Cabe ao interessado (pesquisador, docente ou aluno) providenciar a adequação das dimensões de suas amostras, bem como de eventuais preparações específicas (embutimento, polimento, etc). As amostras para microanálise quantitativa ao MEV (EDS e/ou WDS) devem ser previamente polidas (premissa básica de análise quantitativa) sendo preparadas em seções delgadas e/ou polidas. Opcionalmente, este serviço poderá também ser efetuado pelo LCT, sendo os respectivos custos de responsabilidade do usuário. 
  • A preparação para a análise ao MEV, incluindo montagem no suporte e eventual cobertura da amostra por película de material condutor – C / Au / Pt, será realizada preferencialmente pelo pessoal do LCT, motivo pelo qual as amostras para análise deverão ser encaminhadas com antecedência de 48 horas. Caso estas não sejam encaminhadas neste prazo, o tempo despendido nessa preparação será computado como utilização efetiva do microscópio; exceções poderão ser consideradas em função da especificidade da amostra ou para condições particulares de preparação. 
  • Caso as informações de microscopia eletrônica de varredura, microscopia confocal, microscopia óptica ou resultados de EDS/WDS sejam objeto de tratamento/processamento posterior à análise, este período também será computado nas horas de utilização do equipamento. 
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